GLASS 高精度非接觸式光學(xué)白光掃描三坐標(biāo)測量儀,結(jié)合光學(xué)白光掃描及影像技術(shù),可專門用于高精度掃描與幾何數(shù)據(jù)采集.
針對納米晶尺寸、瑕疵檢測及自動化檢測需求,思瑞推出納米晶自動化智能檢測方案,確保納米晶成品的尺寸及表面質(zhì)量檢測要求.
思瑞手機(jī)自動貼膜方案,在10秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)手機(jī)保護(hù)膜高精度自動貼合,有效防止出現(xiàn)貼歪、氣泡、毛邊、翹邊等現(xiàn)象,提升貼膜質(zhì)量。
思瑞測量有限公司針對手機(jī)充電器外殼推出了操作簡單、多方位尺寸瑕疵檢測設(shè)備,為檢測手機(jī)充電頭外觀缺陷提供了重要手段和依據(jù).
思瑞測量有限公司針對頭戴式耳機(jī)的多種瑕疵類型檢測推出了頭戴式耳機(jī)外觀瑕疵檢測設(shè)備。嚴(yán)格把控生產(chǎn)質(zhì)量、提高合格率。
思瑞測量VIEWMAX E 全自動影像測量儀集全合一復(fù)合傳感器測量技術(shù)于一體,適用于剃須刀這類小型、薄而軟工件外形、平面度、高度等尺寸的高精度測量.
思瑞測量手機(jī)SIM卡托瑕疵檢測設(shè)備,兩秒內(nèi)完成單個手機(jī)SIM卡托幾十種瑕疵高精度測量,每小時高達(dá)1800片,保證手機(jī)SIM卡托的外觀質(zhì)量.
思瑞測量推出手機(jī)閃光燈尺寸與瑕疵自動檢測方案設(shè)備集高分辨率相機(jī)、高精度鏡頭、線激光傳感器于一體,對手機(jī)閃光燈元器件進(jìn)行全自動高效率的多尺寸檢測及瑕疵檢測.